GenX 3.8.9 — для анализа и уточнения данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии

Бесплатная специализированная научная программа, предназначенная для анализа и уточнения данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии, а также поверхностной рентгеновской дифракции. Программа используется физиками и материаловедами для построения моделей слоистых структур и их сопоставления с экспериментальными данными. Она помогает определить такие параметры, как толщина слоев, их плотность (рассеивающая способность) и шероховатость интерфейсов. Читать далее





